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EV-3020光学影像测量仪
 
 
 
    【EV-3020光学影像测量仪-介绍】

◆  具功能强大，最高价格性能比的特点
◆  采用本公司开发的精密多段倍率，超低变形，远心光学设计的变焦镜头，配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP  CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清淅细致地显现，轮廓层次分明，精确无误地放大20～125倍作精密测量
◆  以高精度的大理石作机身的支架，配上高精度工作台，X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的精确的光学尺测量系统，X/Y/Z轴的量测精度高达（3+L/200）um
◆  配备由本公司自行开发，功能强大，使用简单的全功能测量软件，测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件，如AUTOCAD ，MASTERCAM等等，方便用户使用于抄数应用，相反地 ，用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内 ，作直观测量比较
◆  配备本公司自行开发 ，使用简单的SPC统计分析软件 ，使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析，从而轻易地找出流程中的误差趋势，以及工序中存在的问题 。所有测量结果均可输出至通用的办公软件，如EXCEL、WORD等格式，方便用户保存，编制质量检查报告，或作进一步的处理
◆  Renishaw高精度接触式测头（可选配件）
    ->  均可选配英国Renishaw的高精度接触式测头 ，作2D/3D复合测量 ，使EV系列光学影像测量仪变成一台具三座标测量功能的简单三座标测量机
◆  本公司的测量软件提供多种的三座标测量功能，包括Z轴高度、圆球、斜面、圆柱、圆锥等等 。使用测头的三维测量可与两维的影像测量混合使用，采用相同的座标系统，使影像的两维平面测量与三维的立体测量完美、轻松的结合
◆  远心光学设计的高性能变焦镜头
    ->  远心光学设计镜头（Telecentric  Lens）是最适用于影像测量，因为现实的工件大多数都不是一个理想的平面，物体表面高低起伏 ，若使用一般的非远心光学设计的镜头所摘取的影像，物体的尺寸或位置会随着物体表面升降 ，而有所改变，因而增加测量误差
    ->  所有EV系列光学影像测量仪（除低价的EVL系列外）均标配由本公司自行开发的TC系列远心光学设计的高性能 ，超低变形 ，精密多段倍率变焦镜头 ，即使镜头需要随被测工件表面升降 ，物体的尺寸也不会改变，保证测量精确度
    ->  在特殊应用或极高要求的应用，客户也可选配美国或日本各名厂的高性能、高质素镜头

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    【EV-3020光学影像测量仪-技术参数】

◆  型号 ：EV-3020
◆  (x/y/z)量测行程：300*200*200mm  
◆  外型尺寸（长宽高）：120*72*160cm
◆  机身重量 ：280kg
◆  重复性：2um  
◆  机台承重量：30kg  
◆  操作方式：手动  
◆  测量分辨率 ：0.001mm  
◆  x/y/z轴测量精度：(3+L/200)um  
◆  光源系统 ：全电脑程控，USB控制四路上光源，直轴可调下光源  
◆  平台结构：00级花岗石机台及立柱  
◆  精密测头（选配） ：英国Renishaw高精度接触式精密测头  
◆  镜头 ：超底变形，多段倍率远心光学设计镜头（Telecetric  lens）  
◆  放大倍率：光学放大倍率0.7-4.5x,影像放大倍率20x-125x  
◆  标准电脑配置 ：C4／2.4G／512M内存／80G硬盘17"寸液晶显示器  
◆  影像系统：高度析度CCD影像头（1/2"SONY  CCD  Sensor）及支专用DSP  
 
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